測試探針的規(guī)格涵蓋探針外徑、探針長度、容許電流等多個(gè)方面，而其型號則包括P系列探針、DP系列雙頭探針以及SP系列ICT測試探針等。

測試探針的規(guī)格：

1. 探針外徑：探頭外徑?jīng)Q定了探針的接觸面積和適用場景，適用于不同的測試要求和設(shè)備。

2. 探針長度：不同探頭長度適應(yīng)不同的測試深度和環(huán)境。根據(jù)需求確保可以適應(yīng)各種深度的測試需求。

3. 容許電流：探針的容許電流一般范圍從幾A到幾十A，這直接關(guān)系到探針能否在電路中安全使用而不被燒損。

4. 彈力電阻：彈簧的彈力和探針的電阻也是關(guān)鍵參數(shù)。彈力通常在幾N到幾十N之間，而電阻則盡可能低，以減少信號傳輸?shù)膿p失。

5. 工作溫度：操作溫度范圍廣泛，可以在極端環(huán)境中穩(wěn)定工作，一般在-40°C到125°C之間。

測試探針的型號：
1. P系列探針：如P020、P026等，這些通常是單頭或雙頭探針，用于一般的電子測試。
2. DP系列雙頭探針：如DP020、DP026，特別適合需要同時(shí)連接電路兩端的測試環(huán)境。
3. SP系列ICT測試探針：如SP100、SP075測試探針等，專為在線測試設(shè)計(jì)，保證在插件后質(zhì)量檢測中的有效性。
4. BGA雙頭探針：專為BGA封裝測試及芯片測試設(shè)計(jì)，滿足高精度和高密度的測試需求。
5. 特殊型號如SP-ICT076-XX-3.5-GG：這類型號具體針對某種電流和機(jī)械行程設(shè)計(jì)，展示了探針型號的多樣性和專業(yè)性。

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